議程簡介
講習會名稱 光譜儀分析應用研討會
主辦單位 國立中山大學 奈米科技研發中心 , 高高屏區域教學資源中心
合辦單位 國立中山大學 研究發展處
參加費用 早鳥優惠價   :105年09月06日(二)17:00 前完成報名且付清者,
                       校外人士及一般人士900元、校外學生500元、校內學生300元
網路報名價格:105年09月13日(二)17:00 前完成報名及付費者,
                       校外人士、一般人士及校外學生1,000元,校內學生500元
網路報名截止日:105年09月13日(二)17:00 止
現場報名費用:現場報名費收取,不論是否完成報名手續,一律1200元
時間 105年09月30日 (五) 地點 圖資大樓 地下一樓視訊研討室
聯絡人員 奈米科技研發中心   鹿文卿 分機:2681
時間   課程   講座 
08:30~08:50   報到    
09:00~12:10   高解析x光繞射在半導體材料上的應用
(Bede D1& Bruker D8)  
陳永松 教授 
12:10~13:10   午餐時間    
13:10~14:20   離子削薄機 (Ion Miller)
研磨機(Precision Polishing System)  
鄭聿遠 博士生 
14:40~15:40   螢光光譜儀
(F-4500)(PLE)  
洪金龍 教授